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晶圓片在線面掃檢測儀(WaferSurfaceInspectionSystem)是一種先進的設備，用于在線檢測半導體晶圓片的表面缺陷和質量問題。它通過高速的光學成像技術和精確的圖像處理算法，能夠快速、準確地識別和記錄晶圓上的缺陷，為半導體制造業提供高質量的生產保障。晶圓片是半導體芯片制造的重要基材。然而，由于制程和環境等因素，晶圓片上可能存在各種缺陷，如劃痕、缺陷、污染和顆粒等。這些缺陷可能對半導體的性能和可靠性產生重大影響。為了確保產品質量和生產效率，晶圓片表面的檢測和篩選...

隨著科技的進步和發展，人類對于探索微觀世界的渴望越來越強烈。在這個過程中，X射線三維顯微鏡(X-ray3DMicroscopy)成為了一款引人注目的工具。它擁有獨特的能力，能夠深入物質內部，將微觀結構呈現在我們眼前。X射線三維顯微鏡的工作原理基于X射線探測技術。當物體被照射時，內部的原子與分子會散射出X射線。通過捕捉和記錄這些散射信號，三維顯微鏡可以重建出物體的三維模型。相比傳統光學顯微鏡，三維顯微鏡具有更高的分辨率和穿透能力。三維顯微鏡在許多領域都有廣泛應用。在材料科學中，...

前言2023年12月14-15日“布魯克X射線衍射儀用戶交流及TOPAS高級培訓會”在束蘊儀器(上海)有限公司旗下倫琴實驗室圓滿召開。本次培訓會由布魯克AXS主辦、束蘊儀器&倫琴實驗室承辦，共吸引了60余位新老用戶報名，會議由布魯克AXS和倫琴實驗室的應用專業做了精彩的報告分享，并針對性的為用戶使用過程中遇到的問題進行答疑，為期兩天的培訓會充實而精彩，與客戶搭建了更加密切的交流與合作的橋梁-期待我們下次再見！PART.1會議精彩回顧本次培訓內容：1）布魯克D6PHASER衍射...

會議介紹布魯克X射線上海用戶交流及TOPAS高級培訓會”茲定于12月14-15日在束蘊儀器(上海)有限公司倫琴實驗室舉行！屆時布魯克XRD應用工程師將做技術應用、布魯克公司新的技術的發展等報告。我們熱忱地邀請上海及周邊XRD用戶踴躍參加本次會議。本次交流會不收取任何費用，會議期間的差旅費用、住宿費自理。會議時間2023年12月14-15日會議地點束蘊儀器(上海)有限公司2層一號會議室（上海市松江區莘磚公路518號11號樓）報名方式掃描報名（1個微信號只能填寫1人信息）報名費用...

X射線顯微成像系統是一種重要的科學工具，通過利用X射線的特性，可以窺探微觀世界的奧秘。它在醫學、材料科學、生物學等領域發揮著重要作用，為科學研究和醫學診斷提供了強大的支持。該顯微成像系統基于X射線的原理工作。當X射線穿過物質時，會與物質內部的原子相互作用，產生散射或吸收現象。這些散射和吸收信息可以被捕獲并轉化為圖像。顯微成像系統由X射線源、樣品臺、探測器和圖像處理系統組成。X射線源是產生X射線的關鍵部件。常用的X射線源包括X射線管和同步輻射源。X射線經過樣品后，會進入探測器進...

高分辨X射線顯微鏡是一種先進的顯微鏡技術，利用X射線來觀察物質的微觀結構和組成。它在科學研究、材料科學、生物醫學等領域具有重要的應用價值。X射線顯微鏡的工作原理基于X射線與物質相互作用的特性。當X射線束通過樣品時，它們會被樣品中的原子吸收或散射。通過檢測和分析這些被散射或吸收的X射線，可以獲得關于樣品的豐富信息。相比傳統光學顯微鏡，X射線顯微鏡具有更高的分辨率和穿透力。由于X射線具有比可見光更短的波長，因此X射線顯微鏡可以解析出更小的細節，對于觀察納米級別的結構非常有優勢。此...

X射線顯微成像系統是一種重要的科學工具，它為我們提供了窺視微觀世界的窗口。通過利用X射線的特性，這一技術能夠以驚人的分辨率和細節呈現物質的內部結構。X射線顯微成像系統的關鍵部分是X射線源和探測器。X射線源產生高能量的X射線，這些X射線穿透待檢測樣品并與其相互作用。不同材料對X射線的吸收和散射程度不同，從而形成了顯著的對比。探測器記錄下這些相互作用事件，并將其轉化為圖像。該顯微成像系統在眾多領域發揮著重要作用。在材料科學中，它可以幫助研究者觀察納米尺度下的晶體結構、缺陷和界面;...

國際衍射數據中心（ICDD）自1941年發行標準衍射卡片數據庫（PDF數據庫）至今已有80多年的歷史，PDF數據庫是目前分析粉末XRD數據的標準衍射數據庫，結合JADEPro或JADEStandard軟件可實現結晶材料、半結晶材料的物相鑒定和定量分析，也可與主流的XRD設備配套的軟件兼容。束蘊儀器是國際衍射數據中心的授權代理商，為客戶提供新版PDF數據庫銷售與技術支持！//////////PDF數據庫獲得ISO認證晶體學數據庫粉末衍射和單晶結構的綜合數據庫值得信賴的衍射數據庫...