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技術(shù)文章

TECHNICAL ARTICLES

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  • 20248-28
    應(yīng)用分享|少子壽命測試儀(MDP)在碳化硅材料質(zhì)量評估中的應(yīng)用

    在半導(dǎo)體材料科學(xué)領(lǐng)域,碳化硅(SiC)作為一種寬帶隙半導(dǎo)體材料,近年來因其高性能而備受關(guān)注。SiC以其高硬度、高抗壓強(qiáng)度、高熱穩(wěn)定性和優(yōu)異的半導(dǎo)體特性,在大功率器件、高溫環(huán)境應(yīng)用以及裝甲陶瓷等領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的潛力。特別是在高壓器件中,SiC已成為硅(Si)的有力競爭對手,其性能的提升對于推動相關(guān)技術(shù)的發(fā)展具有重要意義。然而,SiC材料的質(zhì)量評估是確保其在實(shí)際應(yīng)用中發(fā)揮高性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。少數(shù)載流子壽命(MinorityCarrierLifetime),作為衡量半導(dǎo)體器件性能的基...

  • 20248-28
    應(yīng)用分享 | AES俄歇電子能譜儀表面分析技術(shù)

    俄歇電子能譜(AugerElectronSpectroscopy,AES)作為一種高度靈敏的表面分析技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)及化學(xué)工程等領(lǐng)域,用于研究固體表面的化學(xué)組成及元素分布。ULVAC-PHI公司匠心打造的PHI710掃描俄歇納米探針系統(tǒng),采用同軸筒鏡式電子能量分析器的設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)對納米表面特征、薄膜結(jié)構(gòu)和表面污染物成分全方面表征和二次電子成像同步觀測。圖1.PHI710設(shè)備外觀圖。PHI710掃描俄歇納米探針系統(tǒng)是該領(lǐng)域的先進(jìn)設(shè)備,其結(jié)構(gòu)構(gòu)成復(fù)雜而精密,主要...

  • 20248-23
    X射線顯微CT的影響因素

    X射線顯微CT技術(shù)是一種強(qiáng)大的成像工具,它使用X射線對樣品進(jìn)行高分辨率的三維成像。這種技術(shù)在醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。盡管X射線顯微CT提供了很高的圖像質(zhì)量和解析度,但其成像質(zhì)量受到多種因素的影響。以下是一些主要的影響因素:1.X射線源的穩(wěn)定性與質(zhì)量-射線穩(wěn)定性:X射線源的穩(wěn)定性直接影響到成像質(zhì)量。不穩(wěn)定的X射線輸出可能導(dǎo)致圖像噪聲增加,降低圖像的清晰度和對比度。-射線質(zhì)量:X射線的波長和能量水平?jīng)Q定了其穿透力。不同材質(zhì)的樣品可能需要不同能量級別的X射線來優(yōu)...

  • 20248-22
    X射線顯微成像系統(tǒng):揭秘微觀世界的黑科技?

    在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的眾多奇跡中,X射線顯微成像系統(tǒng)無疑是一個引人注目的技術(shù)瑰寶。它利用X射線的強(qiáng)大穿透力,為我們提供了一個觀察微觀世界的全新窗口。這種系統(tǒng)不僅能透視固體材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu),而且能夠在不破壞樣品的前提下,揭示其復(fù)雜的內(nèi)部構(gòu)造和組成。X射線顯微成像系統(tǒng)基于X射線與物質(zhì)相互作用時的吸收和散射現(xiàn)象。不同元素和化合物對X射線的吸收程度不同,利用這一性質(zhì),X射線顯微成像可以高對比度地顯示出不同材料的分布和邊界。通過旋轉(zhuǎn)樣品并從多個角度進(jìn)行照射和檢測,可以得到足夠的數(shù)據(jù)重建出三維的...

  • 20248-21
    應(yīng)用分享 | Bruker SkyScan XRM 在電池與清潔能源領(lǐng)域的應(yīng)用

    隨著全球?qū)η鍧嵞茉葱枨蟮娜找嬖鲩L,電池技術(shù)的進(jìn)步成為推動這一轉(zhuǎn)變的關(guān)鍵因素之一。BrukerSkyScanX射線顯微鏡(XRM)因其在非破壞性高分辨率成像方面的優(yōu)異表現(xiàn),正在電池材料研發(fā)與質(zhì)量控制中扮演著日益重要的角色。該技術(shù)的應(yīng)用能夠提高電池性能、延長電池壽命,同時加速清潔能源的創(chuàng)新進(jìn)程。BrukerSkyScanXRM是一種先進(jìn)的3DX射線顯微成像技術(shù),能夠?qū)ξ⒚咨踔良{米級結(jié)構(gòu)進(jìn)行非破壞性觀察。這一技術(shù)結(jié)合了高分辨率、快速成像和深度分析能力,可以對復(fù)雜樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳...

  • 20248-21
    晶體日記(十六):APEX4 -從“數(shù)據(jù)庫”里尋找答案

    晶體學(xué)有時會讓人覺得很神奇,透過一個晶體,我們可以看到微觀的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。但是晶體在肉眼下就只是晶體,沒有X射線我們就只能看著它,可能對它無從下手。而且晶體結(jié)構(gòu)解析需要有一些已知的信息,不然我們就沒有辦法知道這里面會有什么。讓人失望的晶體做晶體實(shí)驗(yàn)總是會遇到一些意想不到的情況,晶體的生長并不會按照我們的意愿進(jìn)行。偶爾欣喜若狂地看到的晶體興許只是一些雜質(zhì),或者只是鹽罷了。如果你是做蛋白晶體的,你一定會十分沮喪,心情一定是180°的轉(zhuǎn)彎。記得讀書時發(fā)生過無數(shù)次這樣的情況,然而一般看到...

  • 20248-21
    應(yīng)用分享 | 異形器件的失效分析測試方案之原位XPS+AES

    失效分析(FailureAnalysis)是探究元器件失效根源的重要手段,旨在為元器件設(shè)計(jì)、工藝、制造等流程提供改進(jìn)方向,從而提升產(chǎn)品良率和可靠性。在失效分析中,經(jīng)常遇到異形器件,其不規(guī)則的形狀與多元組件構(gòu)成的特征尤為明顯,直接影響著產(chǎn)品的性能。值得注意的是,特征尺寸在微米/亞微米級別的異形器件的表征往往存在著諸多挑戰(zhàn)。一方面,受限于傳統(tǒng)分析設(shè)備的空間分辨能力,元器件微小特征的微區(qū)分析會遇到難以準(zhǔn)確定位和準(zhǔn)確分析的障礙,直接影響了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。對此,PHI創(chuàng)新性推出了掃描...

  • 20248-21
    應(yīng)用分享 | 固態(tài)電池中電解質(zhì)/金屬鋰界面的XPS-HAXPES表征

    以立方石榴石型Li7La3Zr2O12(LLZO)作為固態(tài)電解質(zhì)的固態(tài)電池(SSB),具有高鋰離子電導(dǎo)率、低電子導(dǎo)電率(EC)、高機(jī)械和熱穩(wěn)定性以及寬電化學(xué)窗口等特點(diǎn),有望成為推動下一代儲能技術(shù)騰飛的“種子選手”。不過研究發(fā)現(xiàn)LLZO表面容易產(chǎn)生由LiOH和Li2CO3組成的鋰離子非均勻(厚度、成分差異)絕緣層,導(dǎo)致LLZO與金屬鋰的潤濕性較差,從而在充放電過程中引起高界面電阻甚至是Li枝晶的形成,嚴(yán)重影響LLZO-SSBs的電化學(xué)性能。為了增強(qiáng)固態(tài)電解質(zhì)與金屬鋰的浸潤性,本...

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