X射線衍射儀｜特殊樣品制備和擇優取向消除（附視頻）

更新時間：2023-11-15

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視頻講解：

何為擇優取向？

在一般多晶體中，每個晶粒有不同于鄰晶的結晶學取向，從整體看，所有晶粒的取向是任意分布的；某些情況下，晶體的晶粒在不同程度上圍繞某些特殊的取向排列，就稱為擇優取向或簡稱織構。

這里有個案例，四氯間苯二甲睛的PDF卡片數據通過與一個制備不當的樣品數據做對比，我們會發現，樣品在400晶面會有高達2,000多強度的差異：

透射樣品架制備方法

透射樣品架主要是用于一些擇優取向較為嚴重的樣品，首先用拆解器將樣品上方的密封環拆解下來，然后將Kapton膜的一端放在樣品架上方，并把樣品平攤在樣品架中間，將Kapton膜的另一端蓋上用密封環將樣品架蓋上并鎖死，用剪刀將多余的Kapton膜剪掉，這樣透射樣品架就制備完成了。

防潮解防揮發樣品架制備方法

通常針對于一些易揮發易潮解的樣品，首先通過樣品拆解器將樣品架上面的塑料給拆開來，然后將樣品倒于樣品架中間，用毛玻璃將樣品壓平，接著在表面覆蓋一層Kapton膜，將上面的塑料把它蓋住，再用剪刀將表面的Kapton膜給剪去，這樣防潮解防揮發樣品架就制備完成了。

單晶硅樣品架制備方法

單晶硅樣品架用于一些少量樣品的測量，通常可以測幾十毫克，甚至于幾毫克的樣品，首先我們將樣品置于樣品架中間，輕輕地用測量紙按壓，將樣品壓平，如果你沒有辦法將樣品壓平，可以用毛玻璃片輕輕地按壓，特別需要注意，樣品不能按壓過重，否則會出現擇優取向的情況，這就是單晶硅樣品架的制備全過程。

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